IEC 60384-4 AMD 1-1992 电子设备用固定电容器.第4部分:分规范:固态和非固态电解的铝质电解电容器.第1次修改
时间:2024-04-28 03:18:33 来源: 标准资料网 作者：标准资料网 阅读：9722
【英文标准名称】:Fixedcapacitorsforuseinelectronicequipment;part4:sectionalspecification:aluminiumelectrolyticcapacitorswithsolidandnon-solidelectrolyte;amendment1
【原文标准名称】:电子设备用固定电容器.第4部分:分规范:固态和非固态电解的铝质电解电容器.第1次修改
【标准号】:IEC60384-4AMD1-1992
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:1992-04
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/TC40
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子工程;电子装置;分规范;电子仪器;铝质电解电容器;电容器;固定电容器;规范
【英文主题词】:electronicinstruments;capacitors;sectionalspecification;specification;fixedcapacitors;aluminiumelectrolyticcapacitors;electronicengineering;electronically-operateddevices
【摘要】:
【中国标准分类号】:L11
【国际标准分类号】:31_060_50
【页数】:7P;A4
【正文语种】:英语
【英文标准名称】:Landingequipmentforartificialclimbingstructures(ACS)withprotectionpoints-Safetyrequirementsandtestmethods.
【原文标准名称】:带保护点的人造攀登结构用登陆设备.安全要求和试验方法
【标准号】:NFP90-312-2007
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2007-05-01
【实施或试行日期】:2007-05-05
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:Y55
【国际标准分类号】:97_220_40
【页数】:10P;A4
【正文语种】:其他
【英文标准名称】:GuideforDesignofFlat,Straight-LineTestStructuresforDetectingMetallizationOpen-CircuitorResistance-IncreaseFailureDuetoElectromigration
【原文标准名称】:金属电迁移造成的喷镀开路或阻力增加失效率检测用平板,直线试验结构的设计
【标准号】:ASTMF1259-1989
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:1989
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:F30.01
【标准类型】:(Guide)
【标准水平】:()
【中文主题词】:设计;失效率;导则;电气工程;试样
【英文主题词】:Acceleratedaging/testing-semiconductors;Defects-semiconductors;Electricalconductors-semiconductors;Electromigration;Failureendpoint-electroniccomponents/devices;Metallization;Microelectronicdeviceprocessing;Resistance-failure;Silico
【摘要】:1.1Thisguidecoversrecommendeddesignfeaturesforteststructuresusedinacceleratedstresstests,asdescribedinTestMethodF1260,tocharacterizethefailuredistributionofinterconnectmetallizationsthatfailduetoelectromigration.1.2Theguideisrestrictedtostructureswithastraighttestlineonaflatsurfacethatareusedtodetectfailuresduetoanopen-circuitorapercent-increaseinresistanceofthetestline.1.3Thisguideisnotintendedforteststructuresusedtodetectrandomdefectsinametallizationline.1.4Metallizationstestedandcharacterizedarethosethatareusedinmicroelectroniccircuitsanddevices.
【中国标准分类号】:A29
【国际标准分类号】:29_050
【页数】:2P.;A4
【正文语种】: